Function Tester
특징 및 구성
양호/불량 상태를 빠르게 판독 할 뿐만 아니라 시스템 운영자로 하여금 시각적으로 시험 과정을 관찰 할 수 있도록 BGA볼 위치와 함께 양호/불량 상태를 그래픽으로 처리한다. 본 시스템은 전류나 전압을 정밀하게 Sourcing하고 측정할 수 있는 계측기와 4Wire/2Wire 측정이 가능한 4개의 Row를 가진 매트릭스 릴레이 보드 및 시스템 컨트롤러로 구성되어 있다. 생산현장에서 사용되는 장비로서Operator가 Software를 빠르고 직관적으로 운영할 수 있어야 함으로, 메인 윈도우에서는 몇가지 동작만으로 모든 기능을 사용 할 수 있게 하였다.
[Test System Layout]
Test | ADP2700r(Actual) |
1) Bench Testing BLOCK (High Voltage Type) |
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- Voltage Output | 1㎶ ~ 200V |
- Current Output | 1㎀ ~ 1.5A |
- Voltage Measurement Range | 1㎶ ~ 200V |
- Current Measurement Range | 1pA ~ 1.5A |
2) Open/Short Test Open Voltage |
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- Group Short Test | 1group ~ 1100group |
- Judgment Resistance Range | 0.1Ω ~ 1GΩ |
- Forcing Current | 1pA ~ 1.5A |
- Measure ment Accuracy | 0.60% |
3) Micro-short Forcing Voltage Range |
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Limited Current Range | 25㎂, 250㎂, 2.5㎃ |
Judgment Resistance Range | 0.1Ω ~ 1GΩ |
Measurement Accuracy | 0.60% |
4) LEAK Test Judgment Resistance Range |
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Limited Current | 2.5㎃ |
Forcing Voltage | 1㎶ ~ 200V |
Judgment Accuracy | 0.20% |
5) 4Wire Measurement Setting Resistance |
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0.1㎃ Source | 0.1Ω ~ 1GΩ |
Forcing Current | 1pA ~ 1.5A |
Forcing Voltage | 1㎶ ~ 200V |
Judgment Accuracy | 0.1% |
6) Curve Trace | I/VCurve |