Function Tester

특징 및 구성

양호/불량 상태를 빠르게 판독 할 뿐만 아니라 시스템 운영자로 하여금 시각적으로 시험 과정을 관찰 할 수 있도록 BGA볼 위치와 함께 양호/불량 상태를 그래픽으로 처리한다. 본 시스템은 전류나 전압을 정밀하게 Sourcing하고 측정할 수 있는 계측기와 4Wire/2Wire 측정이 가능한 4개의 Row를 가진 매트릭스 릴레이 보드 및 시스템 컨트롤러로 구성되어 있다. 생산현장에서 사용되는 장비로서Operator가 Software를 빠르고 직관적으로 운영할 수 있어야 함으로, 메인 윈도우에서는 몇가지 동작만으로 모든 기능을 사용 할 수 있게 하였다.




[Test System Layout]




Test

ADP2700r(Actual)

1) Bench Testing BLOCK (High Voltage Type)

- Voltage Output

1㎶ ~ 200V

- Current Output

1㎀ ~ 1.5A

- Voltage Measurement Range

1㎶ ~ 200V

- Current Measurement Range

1pA ~ 1.5A

2) Open/Short Test Open Voltage

- Group Short Test

1group ~ 1100group

- Judgment Resistance Range

0.1Ω ~ 1GΩ

- Forcing Current

1pA ~ 1.5A

- Measure ment Accuracy

0.60%

3) Micro-short Forcing Voltage Range

Limited Current Range

25㎂, 250㎂, 2.5㎃

Judgment Resistance Range

0.1Ω ~ 1GΩ

Measurement Accuracy

0.60%

4) LEAK Test Judgment Resistance Range

Limited Current

2.5㎃

Forcing Voltage

1㎶ ~ 200V

Judgment Accuracy

0.20%

5) 4Wire Measurement Setting Resistance

0.1㎃ Source

0.1Ω ~ 1GΩ

Forcing Current

1pA ~ 1.5A

Forcing Voltage

1㎶ ~ 200V

Judgment Accuracy

0.1%

6) Curve Trace

I/VCurve